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5G 器件H/LTOL(高低温全生命周期可靠性) 测试系统
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所属分类
功率容限测试系统
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产品描述
技术指标
5G通信要求更高功率、更高效率、多频段、大带宽、小体积、轻重量，以及高可靠性。随着全频谱接入、大规模天线、载波聚合等关键无线技术的应用，加上频率提高和调制方式更加复杂，对射频端的器件性能提出了更高的设计挑战，射频器件的可靠性测试显得更加重要。
射频元器件功率HTOL测试，作为一项严酷的应力测试，通过模拟老化和功率负荷加速激发故障来验证器件运行寿命，已广泛应用于陶瓷/介质滤波器，隔离器，衰减器、电阻等可靠性测试。 。
功能应用
- ● 5G 模拟前端器件，陶瓷/介质滤波器，隔离器，衰减器等耐久性测试。
- ● 半导体器件（如IC）高低温耐久性测试。
- ● 无源天线大功率高低温可靠性测试。
- ● 集总参数器件，电容、电阻、电感等耐久性测试。
功率容限的测试方案
图像化用户界面（GUI）
- ● 通过图形用户界面（GUI）控制，不需要额外开发应用软件；
- ● 软件自动关断故障通道，亦可人为手动关断选中通道，不影响其他通道测试；
- ● 可中途单独查看每个通道测试曲线、测试数据；
- ● 在长达1000h的测试过程，无需人工干预，软件自动记录测试数据，包括功率、驻波、插损、温度等。
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